平板掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LSCL-AFM

SKU: FM-Nanoview LSCL-AFM

產(chǎn)品介紹

◆實現(xiàn)探針和樣品組合式移動掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡；

◆采用三軸獨立閉環(huán)壓電平移式掃描臺，實現(xiàn)大范圍高精度掃描；

◆ 三軸獨立式掃描，XYZ互不影響，非常適合三維材料及形貌檢測；

◆ 電動控制樣品移動臺和升降臺，可任意編程多點位置實現(xiàn)快速自動化檢測；

◆ 龍門架式掃描頭設(shè)計，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式載物臺；
◆ 馬達(dá)自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品；
◆ 高倍輔助光學(xué)顯微定位，實時觀測與定位探針以及樣品掃描區(qū)域；

◆ 閉環(huán)壓電掃描臺無需非線性校正，納米表征和測量精度優(yōu)于99.5%。

應(yīng)用案例

藍(lán)寶石外延片/掃描范圍1µm×1µm/Sa=1.7nm,Sq=2.08nm

砷化鎵晶圓.png 表格2.png 平板掃描2.png

砷化鎵晶圓/掃描范圍0.9µm×0.9µm/Sa=2.15nm,Sq=2.69nm


		FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進(jìn)行表征、分析				FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡帶光學(xué)定位的CCD觀測系統(tǒng)，實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域


		FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡開啟全民原子力顯微鏡時代，掃描范圍更廣，定位更精確				自由曲面三維面型檢測系統(tǒng)


		原子力顯微鏡（環(huán)境控制型）FM-Nanoview EC-AFM				原子力顯微鏡光學(xué)一體機 FM-Nanoview Op-AFM