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CM120BD研究級12寸大平臺半導(dǎo)體檢查顯微鏡 采用明暗場半復(fù)消物鏡,配置12寸大平臺,帶快速移動(dòng)裝置,配置有偏光裝置
產(chǎn)品介紹產(chǎn)品概述 研究級12寸大平臺半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD,粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù),集明場,暗場及偏光等多種照明方式,任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像,其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇,是工業(yè)檢測的有效工具。特別是針對線路板切片測量,晶圓檢測,金相材料,高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測,本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測,在半導(dǎo)體和PCB檢測中,可消除雜光,細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡,可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,大幅提高圖像對比度,特別適合觀察導(dǎo)電粒子。 性能特點(diǎn) 1、采用明暗場半復(fù)消物鏡,成像清晰。 2、配置12寸大平臺,帶快速移動(dòng)裝置。 3、配置有偏光裝置,適合觀察高反光材料的表面; 技術(shù)參數(shù)顯微鏡參數(shù)
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