馬航MH370殘骸檢測電子顯微鏡立功

 

今日下午，對于上周留尼汪島上發(fā)現(xiàn)的飛機殘骸的技術鑒定工作將在位于法國圖盧茲近郊的軍備總局航空技術中心啟動。

 

此次鑒定的主要目標是為了確認飛機殘骸是否屬于2014年3月神秘消失的馬航客機MH370。

 

 

 

電子顯微鏡簡稱電鏡，英文名Electron Microscope（簡稱EM）經過五十多年的發(fā)展已成為現(xiàn)代科學技術中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。

 

透射式電子顯微鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細微物質結構；掃描式電子顯微鏡主要用于觀察固體表面的形貌，也能與X射線衍射儀或電子能譜儀相結合，構成電子微探針，用于物質成分分析；發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。

 

此次調查工作由法國、馬來西亞、中國和美國波音公司的代表組成的分析小組已于今日開始行動，分析工作將分為兩個階段開展，第一時間的結果仍將在幾天后得以公布。但經專家證實，這塊飛機襟副翼殘骸確實標有 “657BB”的編號，確認屬于一架波音777客機。調查工作首先從確認機翼所屬型號及材質開始，同時專家組將重新印證發(fā)現(xiàn)殘骸上的編碼，波音公司制造商方面將提供飛機模型圖，以及使用材質和制造程序等的詳細信息文件以供研究。